使用UTI測量直流電壓

1 介紹

UTI可以為許多被動傳感元件提供接口，例如，電容，電阻，阻橋和電阻分壓計。通過一些外部元件，UTI也能夠為直流電壓測量提供接口。這對熱電偶信號測量應(yīng)用時非常有用。

2 測量概念

UTI電容測量的功能可以被用來測量電壓信號。例如，圖1（a）給出了一個

使用UTI的模式C23測量電壓信號的電路原理圖。在這個電路中，Vx表示一個未知電壓（待測量），Vref是一個已知參照電壓。電容Cs和開關(guān)Sx1,Sx2,Sref1,Sref2從電壓信號Vx和Vref取樣并將這些電壓信號轉(zhuǎn)換為電荷信號。UTI將會把這些電荷轉(zhuǎn)換為周期輸出。

采用三信號技術(shù)[3]通過消除接口系統(tǒng)的增益和偏移量來保證電路的精度和可靠性。為了實現(xiàn)這個三信號技術(shù)，一個參照信號（Vref）和一個常量（包括偏移電壓）必須在兩個增加的狀態(tài)中以與傳感信號（Vx）完全同樣的方式被測量。圖一愕完整周期，1(b)給出了由三個狀態(tài)Toff,Tx,Tref組成。

圖1(a) 測量系統(tǒng)的原理圖   （b）UTI的輸出信號Vout

接下來，我們來解釋一下測量原理：

當(dāng)UTI工作在模式C23下時，引腳A是UTI中電荷放大器的輸入端，引腳E和F是內(nèi)部接地，引腳B，C和D輸出方波信號（請見圖1（b））。這些方波信號的周期是由電容Cs中的電荷量調(diào)制。這些方波信號同樣控制著取樣開關(guān)的狀態(tài)。

在引腳B輸出方波信號時，UTI的初始偏置被測量。在引腳C輸出方波信號時，參照電壓被測量。而在引腳D輸出方波信號時，待測量(一個電壓信號)被測量。每個狀態(tài)的持續(xù)時間與每個信號在那個狀態(tài)的時間成正比。這個時間由以下公式給出：

Vcc是供電電壓。K是UTI的線性傳輸系數(shù)。Coff是一個初始常量部分（包括偏置電容）。

根據(jù)等式1,2,3,待測量Vx表示為

                                                  （4）

公式（4）指出，由于采用了三信號技術(shù)，電容的大小和誤差，供電電壓Vcc，線性傳輸系數(shù)K的誤差都不會影響測量結(jié)果。

上述測量原理同樣適用于模式C25，C12，CMUX和C300。

3 非理想情況

由于采用了三信號技術(shù)，很多不理想因素都被消除了。然而，還是有一些效應(yīng)不能被這個技術(shù)消除，比如下面將討論的。

A  寄生電容的影響

圖2給出了電壓測量系統(tǒng)中的一些關(guān)鍵的寄生電容Cpx,Cpref,Cpl和Cpin。

圖2  電壓測量系統(tǒng)中的寄生電容

1） 寄生電容Cpin

正如我們在參考[2]中所描述的一樣，寄生電容Cpin會導(dǎo)致在將輸入信號轉(zhuǎn)化成輸出周期時產(chǎn)生一個非線性。對一個300ppm的非線性，寄生電容*大允許250pF。 

2） 寄生電容cpx和Cpref

寄生電容cpx和Cpref對結(jié)果的影響可以用下述方程表達(dá)：

                    （5）

     方程5指出，即使采用三信號技術(shù)，寄生電容cpx和Cpref仍然會在結(jié)果中產(chǎn)生增益誤差和偏移量。這些系統(tǒng)錯誤可以在微控制器中通過補償運算消除。

B) 參照電壓源和Vx的輸出阻抗Roref,Rox

參照電壓源和Vx的輸出阻抗Roref,Rox和與之關(guān)聯(lián)的電容形成一個RC電路，時間常數(shù)為：

                                         （6）

其中Roi代表輸出阻抗Rox或Roref。RON是開關(guān)Sx,Sref的開態(tài)電阻。這個效應(yīng)對結(jié)果造成一個相對誤差，

                                                            （7）

例如：給定一個相對誤差，比如小于105,在Ron=200Ω,Tp=10μs,Cs+Cpl=10pF, Roi必須小于43KΩ。

C) 開關(guān)時鐘Feedthrough

在實際應(yīng)用中經(jīng)常通過補償來減少開關(guān)時鐘feedthrough的影響。因為開關(guān)Sx1,Sx2,Sref1,Sref2是被反向時鐘信號控制的，時鐘feedthrough的影響被消除掉了一部分。此外，還可以通過采用CMOS開關(guān)更進(jìn)一步的降低時鐘FEEDTHROUGH。

D) 噪聲

采用圖1（a）所示的系統(tǒng)，在電壓測量中噪聲的主要來源是兩部分：振蕩器的噪聲和微控制器取樣時的量化噪聲。由這兩個噪聲源導(dǎo)致的有關(guān)錯誤的標(biāo)準(zhǔn)差分別表示如下：

                                              （8）

                                                     （9）

其中，fT是OTA的帶寬，νeq是OTA等價輸入噪聲（V/√Hz）的RMS值，fc是微控制器的取樣頻率，而N是測得的周期數(shù)。

4 測量范圍的*優(yōu)化

為了保證UTI工作在它的*佳線性測量范圍，對電壓的測量范圍Vx,range和取樣電容Cs的值是由一下關(guān)系決定的：

                                                 （10）

其中Cx,range是UTI的電容測量范圍。例如，在UTI模式C23下，Cx,range＝2pF。

當(dāng)取樣開關(guān)是由VDD供電，而VDD大于UTI的供電電壓VCC時。圖1（a）所述的測量系統(tǒng)可以測量一個大于VCC的電壓。

5 采用模式C12和C25的電壓信號測量

電壓信號也可以用UTI的模式C12和C25測量。圖3給出了UTI采用模式C12和C25測量電壓信號的電路原理圖。

圖3  UTI采用模式C12和C25測量電壓信號的電路原理圖。

圖4給出了UTI在模式C12和C25下的輸出信號

圖4  UTI輸出信號

6 采用模式CMUX測量電壓信號

圖5給出了UTI采用模式CMUX測量電壓信號的電路原理圖。

圖5  采用模式CMUX測量電壓信號的電路原理圖